关 键 字: 正向寿命试验台,IGBT测试仪 | |
产品规格: 800X800X1800 | |
所属行业: 综合测试/分析仪 | 产品包装: |
供货数量: 100 | 产品报价: 100 |
发布时间: 2022-09-27 | 有 效 期: 365 |
正向寿命试验台 系统概述 绝缘栅双较型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,简称IGBT)作为功率开关器件,具有载流密度大、饱和压降低等 许多优点, 但是由于其长期工作在高电压、大电流、高频开关状态等且运行环境复杂,IGBT功耗和结温频繁波动*造成器件疲劳老化。目前国内外温度循环引起的器件失效机理已进行了深入研究,在此基础上正积极发展功率模块寿命预测技术以提高变流器运行**性。 技术指标 测试参数 VF 0.01~20V 0.01~10V±3%±0.01V 10~20V±3%±0.1V 测试条件 正向电流:1mA~60A 直流方波 脉宽 50uS-1mS 工位 20只 测试方法 器件在特定温度下存储一定时间后,在设定电流后 按规定施加条件对被试器件依次进行测试,测试间 隔时间约100mShttp://xiangzi1995.cg160.cn/
西安易恩电气科技有限公司??**供应?IGBT动静态测试系统,分立器件综合测试系统 , 晶体管图示仪?,?IPM测试系统,功率循环?/?雪崩能量?/?浪涌?/?栅电荷 / 高温反偏 / 高温阻断 / 正向寿命测试系统等半导体器件的测试方案
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